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测厚仪
概述

    测厚仪(Thickness Gauge)是用来测量材料及物体厚度的仪表。在工业生产中常用来连续或抽样测量产品的厚度(如钢板、钢带、薄膜、纸张、金属箔片等材料)。

仪器种类

    这类仪器通常有利用α射线、β射线、γ射线穿透特性的放射性厚度计;有利用超声波频率变化的超声波厚度计;有利用涡流原理的电涡流厚度计;还有利用机械接触式测量原理的测厚仪等。
    测厚仪按照测量的方式不同,可大致分为:
    1、接触式测厚仪
       接触面积大小划分:
       点接触式测厚仪
       面接触时测厚仪
    2、非接触式测厚仪
    非接触式测厚仪根据其测试原理不同,又可分为以下几种:
    (1) 激光测厚仪
    激光测厚仪是利用激光的反射原理,根据光切法测量和观察机械制造中零件加工表面的微观几何形状来测量产品的厚度,是一种非接触式的动态测量仪器。它可直接输出数字信号与工业计算机相连接,并迅速处理数据并输出偏差值到各种工业设备。
    (2) 超声波测厚仪
    超声波测厚仪是根据超声波脉冲反射原理来进行厚度测量的,当探头发射的超声波脉冲通过被测物体到达材料分界面时,脉冲被反射回探头,通过精确测量超声波在材料中传播的时间来确定被测材料的厚度。凡能使超声波以一恒定速度在其内部传播的各种材料均可采用此原理测量。
    适合测量金属(如钢、铸铁、铝、铜等)、塑料、陶瓷、玻璃、玻璃纤维及其他任何超声波的良导体的厚度。
    (3) 涂层测厚仪
    涂层测厚仪采用电磁感应法测量涂层的厚度。位于部件表面的探头产生一个闭合的磁回路,随着探头与铁磁性材料间的距离的改变,该磁回路将不同程度的改变,引起磁阻及探头线圈电感的变化。利用这一原理可以精确地测量探头与铁磁性材料间的距离,即涂层厚度。
    涂层测厚仪具有两种测量方式:连续测量方式(CONTINUE)和单次测量方式(SINGLE);
    具有两种工作方式:直接方式(DIRECT)和成组方式(APPL)。
    (4) X射线测厚仪
    利用X射线穿透被测材料时,X射线的强度的变化与材料的厚度相关的特性,从而测定材料的厚度,是一种非接触式的动态计量仪器。它以PLC和工业计算机为核心,采集计算数据并输出目标偏差值给轧机厚度控制系统,达到要求的轧制厚度。主要应用行业:有色金属的板带箔加工、冶金行业的板带加工。
    (5) 白光干涉测厚仪
    (6) 电解式测厚仪
    (7) 管厚规

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