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测厚仪 >> X射线荧光测厚仪
X射线荧光仪XDL®210
X射线荧光仪XDL®210图片
产品介绍

凭借电机驱动(可选)与自上而下的测量方向,XDL® 系列测量仪器能够进行自动化的批量测试。提供 X 射线源、滤波器、准直器以及探测器不同组合的多种型号,从而能够根据不同的测量需求选择适合的 X 射线仪器。

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