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3nh KS-220八口径荧光测量分光色差仪
3nh KS-220八口径荧光测量分光色差仪图片
型号:KS-220
包装:1台/箱
交货期:款到3天发货
产地:广州
仪器类型:便携式
光学结构:45/0 积分球


产品介绍

产品介绍:

KS-220分光色差仪专为荧光样品及多形态样品测量打造,在基础配置上新增专业UV光源,实现荧光材料精准测色。仪器配备8种测量口径(3mm/5mm/10mm/11mm平台+尖嘴),可灵活适配平面、曲面、凹凸表面及大尺寸样品。核心性能上,重复性ΔEab≤0.028、台间差ΔEab≤0.35,并具备一级计量认证,确保数据权威可靠。非接触式自动白板校验、摄像头实时取景定位、多系统云端协同等功能,广泛适用于含荧光材质的塑胶电子、油漆油墨、纺织印染等行业。

产品特点:

一、测量精准:数据权威,荧光/常规样品通测

1. 荧光专属测量

UV光源 + 全光谱LED照明,无光谱缺失,精准捕捉荧光增白剂、荧光颜料等材料的颜色信息。

2. 高精度表现

重复性ΔEab≤0.028,台间差ΔEab≤0.35,双光路系统设计通过监测光源能量波动,减少测量干扰,保障批次一致性。

3. 国际通用的D/8 SCI/SCE合成技术

采用D/8(漫射照明,8°方向接收)几何光学结构,支持SCI(包含镜面反射光)与SCE(去除镜面反射光)同时测量,符合CIE、ISO、ASTM等国际标准。

4. 权威计量认证

一级计量认证合格,出厂经权威检定,数据溯源至国家计量院,结果可靠。

二、硬件强大:核心配置,性能强大

1. 核心光学组件

双列18组硅光电二极管阵列(400-700nm光谱响应)、纳米集成光谱器件,强光不饱和、弱光高灵敏,各波段数据精准。

2. 全波段均衡LED光源+UV光源

400-700nm全波段均衡LED+UV光源,兼顾常规与荧光样品测量,避免光谱缺失。

3. 先进架构设计

光学分辨率小于10nm,支持SCI/SCE同时测量,平衡速度、准确性与稳定性。

三、操作便携:新手易上手,跨设备高效用

1. 自动校准+精准定位

非接触式自动白板校验(标准白板反射率≥95%),搭配摄像头实时取景+稳定片,降低测量误差,快速上手。

2. 多系统兼容

支持Android、iOS、Windows、鸿蒙等系统,手机APP、微信小程序、电脑均可操作,跨设备数据同步。

3. 人机工程学易测装置

人机工程学外观,大尺寸触摸屏+优化握持设计,操作界面简洁,无需复杂培训。

四、测量范围广:全形态+多场景适配

1. 8种口径全覆盖

3mm/5mm/10mm/11mm平台+尖嘴,适配平面、曲面、凹凸表面等不同形态样品。

2. 多种颜色空间与观测光源

提供CIE LAB、XYZ、Yxy、LCh、CIE LUV、s-RGB、HunterLab、βxy、DIN Lab99颜色空间,以及D65、A、C、D50、D55、D75、F1-F12、U35、NBF、ID50、ID65等多种观测光源。

3. 行业适配

可切换测量模式,用于塑胶电子、油漆油墨、纺织服装印染、印刷、陶瓷等行业的色差品质管控;包含UV可用于荧光样品测量。

五、扩展应用强:云端协同+专业管理

1. 云端数据管理

APP/小程序同步存储500条标样,建立私人云端数据库,随时随地分享数据。

2. 专业软件配套

支持Android、iOS、Windows、鸿蒙等多系统兼容品质管理软件,支持生成测试报告、对比色差、定制颜色管理流程,满足工业级品质控制。


技术参数:

产品型号KS-220 分光色差仪
照明方式D/8(漫射照明,8°方向接收),SCI/SCE(包含镜面反射光/去除镜面反射光),符合标准 CIE No.15、GB/T 3978、GB 2893、GB/T 18833、ISO7724-1、ASTM E1164、DIN5033 Teil7
特性采用双列18组硅光电二极管阵列,新增UV光源,专为荧光样品及多形态样品测量打造。配备8种口径,支持非接触式自动白板校验。
照明光源全波段均衡LED光源 + UV光源(覆盖400-700nm全光谱)
积分球尺寸Φ40mm
分光方式纳米集成光谱器件
测量口径8种口径:3mm平台、3mm尖嘴、5mm平台、5mm尖嘴、10mm平台、10mm尖嘴、11mm平台、11mm尖嘴
重复性/台间差重复性 ΔEab≤0.028,台间差 ΔEab≤0.35(具备一级计量认证)
定位与校准稳定片 + 摄像头实时取景双定位;支持非接触式自动白板校验(R%≥95%)
测量波长400-700nm,波长间隔 10nm,光学分辨率<10nm
数据交互支持Android/iOS/Windows/鸿蒙等多系统;APP/小程序云端存储500条标样;支持生成测试报告与定制颜色管理流程
适用行业塑胶电子、油漆油墨、纺织服装印染、印刷、陶瓷等行业的色差品质管控;含荧光材质的样品测量
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