MHD-MB系列 数显测微头
配备有数显显示屏和数据输出功能。
MHN-MX(IP65)/MXN(IP65)数显测微头，达到IP65防护等级。
配置数据输出端口，可将测量数据输出到统计过程控制系统或计量系统。
技术参数
货号 | 型号 | 测量范围 (mm) | 分辨力 (mm) | 分度值(微分筒) (mm) | 轴套 | 轴套外径 (mm) | 测量面 | 分度特征 | 最大允许误差 JMPE (µm) |
164-163 | MHD-50MB | 0 - 50 | 0.001 | — | 直柄型 | 18 | 平面 (测量面为硬质合金) | — | ±3µm |
350-251-30 | MHN1-25MX*1 | 0 - 25 | 0.001 | 0.01 | 10 | 平面 (测量面为硬质合金) | 标准刻度 | ±2µm |
350-252-30 | MHN2-25MX*1 | 带有锁紧螺母 |
350-253-30 | MHN3-25MX*1 | 直柄型 | 球面 (SR4) (测量面为硬质合金) |
350-254-30 | MHN4-25MX*1 | 带有锁紧螺母 |
350-281-30 | MHN1-25MX(IP65)*2 | 直柄型 | 12 | 平面 (测量面为硬质合金) |
350-282-30 | MHN2-25MX(IP65)*2 | 带有锁紧螺母 |
350-283-30 | MHN3-25MX(IP65)*2 | 直柄型 | 球面 (SR4) (测量面为硬质合金) |
350-284-30 | MHN4-25MX(IP65)*2 | 带有锁紧螺母 |
350-261-30 | MHN1-25MXN(IP65)*2 | 直柄型 | 平面 (测量面为硬质合金) |
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