电子器件噪声分析仪XC3020

电子器件噪声分析仪，测量半导体分立器件和集成电路和低频至超低频噪声参数，根据噪声频谱分析和实践波形分析，检测半导体分立器件和集成电路的潜在缺陷，对其可靠性进行加严筛选和故障诊断，对寿命及环境应力适应性进行预估。

XC3020电子器件噪声分析仪
噪声测试：测量半导体分立器件和集成电路的低频至超低频噪声参数，测试范围和精度满足国家标准、国家军用标准以及行业标准的相应产品技术规范。
可靠性分析：根据噪声频谱分析和时间波形分析，检测半导体分立器件和集成电路的潜在缺陷，对其可靠性进行加严筛选和故障诊断，对寿命及环境应力适应性进行预估。
分立器件：电压基准和调压二极管，硅功率晶体管，GaAs MESFET&HEMT&HBT，JFET，MOSFET，光电偶合器，VDMOS功率管，IGBT，特种器件等。