EMID 150K电磁干扰去耦夹用于射频场感应的传导骚扰抗扰度（GB/T 17626.6-2017、 IEC 61000-4-6-2013）测试中辅助设备端射频信号的去耦。可以对150 kHz-230 MHz信号进行有效衰减，保证辅助设备正常工作。本产品采用卡扣式结构，可以直接套在待去耦的线缆上，使用方便。同时去耦夹还具有与去耦线缆物理隔离的特点。

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在附图所示的测试条件下得出。

附图：EMID 150K电磁干扰去耦夹衰减系数测试原理框图