外部调节探针冷热台，实现变温电学测试。

应用场景：

1、半导体器件在低温/高温下的电学特性微区测试

2、材料相变点附近的局部电导/热导测量

3、纳米材料、低维材料在变温条件下的物性表征

产品主要技术参数：

温度范围：-190℃～400℃

温度稳定性：±0.1℃

探针：同轴探针*4

探针位移行程：±6mm

探针接口：三同轴BNC

腔室：真空